Il laboratorio opera sull’intera filiera del fotovoltaico a concentrazione sviluppando:

1. dispositivi fotovoltaici a multigiunzione, mediante l’utilizzo di materiali innovativi (nuovi materiali semiconduttori e  metamateriali)
2. soluzioni ottiche innovative (brevetto ottiche a specchi per l’alta concentrazione)
3. soluzioni tecnologiche per il miglioramento dell’accuratezza dell’inseguimento solare (brevetto per sensore di puntamento integrato nel modulo CPV)

Inoltre il laboratorio è impegnato:

1. nelle attività di caratterizzazione di celle e moduli per lo messa punto di nuove metodologie, contribuendo allo sviluppo normativo (partecipazione al comitato CEI  e al gruppo IEC WG7).
2. Nella raccolta ed analisi della radiazione solare diretta per le stime di producibilità dei sistemi CPV

Recentemente, il laboratorio CPV ha ampliato il proprio campo di ricerca per comprendere lo sviluppo:

1. di inverter con risposta veloce
2. di dispositivi per il termofotovoltaico ed i concentratori luminescenti

Per lo svolgimento delle attività sopra descritte, il laboratorio dispone di una ampia gamma di strumenti.

• Reattore MOCVD di nuova generazione
• Diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione
• Misure capacità tensione per la misura del profilo del drogante
• Sistema di misura di effetto Hall
• Fotoluminescenza a temperatura ambiente a tre diverse lunghezze d’onda
• Microscopio a scansione elettronica con ingrandimenti fino a 1000000 con sistema per la litografia ad alta risoluzione
• Sistemi di attacco chimico Wet e plasma
• Evaporatori per metalli ed ossidi
• Sistema di deposizione per co-sputtering
• Forno per trattamenti termici rapidi
• Misure di efficienza quantica per celle a Multigiunzione
• Misure di riflettività
• Misure curve IV al simulatore solare in concentrazione fino a 5000 soli
• Misura dei coefficienti di temperatura
• Misure caratteristiche IV al buio
• Misura caratteristica IV outdoor di moduli CPV
• Misura 2D dell’angolo di accettazione del modulo CPV
• Misure di mismatch termottico
• Determinazione della temperatura operative di celle a MJ in moduli CPV
• Misura della radiazione diretta nell’intervallo 300 nm 1700 nm
• Sistemi wire bonder e dye attach
• Profilometro a stilo con risoluzione nanometrica
• Software per simulazioni del dispositivo in ambiente MATLAB