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    pubblicazioni - Memoria

    Analisi di misure riflettometriche a diverse lunghezze d’onda

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    #Fotovoltaico #Misura di Riflettività #Spettrometria

    pubblicazioni - Memoria

    Analisi di misure riflettometriche a diverse lunghezze d’onda

    E’ stato realizzato un programma in grado di calcolare la riflessione teorica di deposizioni multistrato. Il programma permette di determinare gli esatti spessori degli strati partendo dalle curve riflettometriche ottenute sperimentalmente.

    E’ stato sviluppato un programma per analizzare e ottimizzare in maniera semi-automatica la riflessione della radiazione luminosa prodotta da una superfici piane realizzate sovrapponendo diversi strati riflettenti. Il programma ha due modalità di funzionamento. Nella prima modalità calcola le curve teoriche di riflessione in funzione della lunghezze d’onda, degli angoli d’incidenza, degli spessori e delle caratteristiche ottiche dei diversi strati riflettenti. Nella seconda modalità il programma permette di comparare le curve teoriche di riflettività con quelle sperimentali per determinare gli esatti spessori degli strati riflettenti. Il programma può anche ottimizzare gli spessori delle deposizioni multistrato in modo da minimizzare o massimizzare la radiazione riflessa.

    Rif.RSE​

    13001002

    Destinazione​

    NIDays 2013 - Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi 27 Febbraio-2013

    Data Pubblicazione

    31 Dicembre 2013

    Autori​

    F. Trespidi, G. Timo´, N. Novello "Tirocinante"

    Tipo Pubblicazione

    Memoria

    Progetti

    Strumenti per lo sviluppo del sistema di trasmissione e delle reti di distribuzione attive (P7 (T&D))

    Target​

    Ricerca

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