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Progettazione di un Sistema di Misura di Dispositivi Superconduttori – Test HTS

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Progettazione di un Sistema di Misura di Dispositivi Superconduttori – Test HTS

Recently updated on Maggio 11th, 2021 at 08:28 am

Test HTS Daniele Bartalesi* NIDays 2007, Milano 27 Febbraio 2007 *CESI RICERCA Obiettivo dell’attività era definire una serie di strumenti atti a caratterizzare elettricamente i dispositivi a superconduttore. Il parametro principale da determinare è il valore di corrente critica I C , caratteristico dei nastri SAT (Superconduttori ad Alta Temperatura). In generale i superconduttori sono materiali che, raffreddati al di sotto di una determinata temperatura critica T C e per correnti inferiori ad una caratteristica I C , presentano resistenza elettrica nulla, permettendo il trasporto di corrente senza perdite per effetto Joule. Temperatura, intensità del campo magnetico ed intensità della corrente elettrica sono i tre parametri critici che discriminano tra stato superconduttore e stato normale di un materiale e che ne condizionano il comportamento. Conoscere il valore di I C equivale a caratterizzare da un punto di vista elettrico il nastro SAT per valutarne le potenzialità in prospettiva di un suo impiego nella realizzazione di dispositivi elettrici innovativi. Oltre a determinare il valore di I C e la curva caratteristica E(I), il software ricava anche il parametro n, spesso utilizzato come indice della qualità ed omogeneità del nastro SAT. Tale parametro descrive la relazione tra la caduta di tensione per unità di lunghezza sul conduttore e la corrente applicata.

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