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Potenzialità applicative dei microsistemi MEMS e MOEMS con riferimento alle problematiche diagnostiche del settore della generazione

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Potenzialità applicative dei microsistemi MEMS e MOEMS con riferimento alle problematiche diagnostiche del settore della generazione

Recently updated on Aprile 7th, 2021 at 01:16 pm

Il monitoraggio e il controllo non distruttivo sono gli strumenti che consentono di valutare la buona funzionalità, l’integrità ed affidabilità dei componenti in esercizio. Negli impianti di generazione elettrica sono i componenti eserciti in condizioni più critiche, dal punto di vista termomeccanico, ad essere oggetto di sorveglianza mediante sistemi strumentali che riportano i loro dati alla sala controllo ed al servizio di manutenzione dell’impianto. In questo contesto il sottoprogetto INNOSENS (progetto ASISGEN – “Affidabilità e sicurezza dei sistemi di generazione” – Ricerca di Sistema) si è posto l’obiettivo della ricognizione, qualificazione e dimostrazione di soluzioni per le applicazioni di diagnostica, riguardanti: • sensori innovativi, che utilizzano nuovi materiali e soluzioni costruttive, • nuovi sistemi trattamento del segnale, o richiesti dall’utilizzo dei nuovi sensori, • nuovi sensori e/o sistemi di raccolta dati con particolare riferimento alle reti “wireless”, finalizzati alla realizzazione di sistemi di diagnostica strutturale e funzionale per la sorveglianza in linea e l’ispezione ed il controllo fuori linea di componenti e strutture critiche degli impianti di generazione. Il presente documento riguarda l’attività condotta nel corso del 2002 relativamente al primo punto riguardante i “sensori e materiali funzionali innovativi” e, all’interno di questa classe, dei cosiddetti microsistemi. L’interesse verso questi dispositivi deriva dalla caratteristica dei microsistemi di possedere diverse funzionalità e di avere dimensioni piccole rispetto ai dispositivi più ingombranti e massivi che siamo abituati a manipolare. I microsistemi sono dispositivi elettronici polifunzionali, che implementano metodologie combinate di rilevazione e misura, possibili grazie a tecnologie di microlavorazione di elevata precisione e accuratezza, derivate dai semiconduttori – silicio in particolare – ovvero adattate per rispondere a particolari esigenze costruttive, ad esempio per l’integrazione di funzioni meccaniche prerogativa dei microsistemi propriamente detti MEMS (Micro Electro Mechanical System). Con queste tecniche si possono produrre sensori, attuatori, pompe, di dimensioni micrometriche. Un breve cenno riguarderà perciò i concetti generali alla base di queste tecnologie e alcuni prodotti oltre quelli oggi realizzabili, che potrebbero essere interessanti per future applicazioni diagnostiche nel settore della generazione. Per quanto riguarda l’ambito dei nanomateriali e in generale dalle nanotecnologie, per il 2002 è stata mantenuta un’attività di osservatorio tesa a controllare le novità più interessanti, e comunque a verificare lo stato dell’arte ed il panorama delle competenze che stanno maturando anche sul territorio nazionale. Di questo argomento il presente documento conterrà un sintetico contributo.

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