Questo documento tratta le innovazioni prodotte nell’ambito del presente progetto riguardanti la previsione dell’invecchiamento di materiali isolanti dielettrici. Gli elementi dielettrici sono diffusi in quasi tutti i componenti di rete e determinano attivamente l’affidabilità della rete.

All’interno del presente progetto possiamo distinguere quattro filoni di ricerca. Il primo è relativo alla modellazione delle scariche parziali ovvero il principale meccanismo di degenerazione in corrente alternata. È stata sviluppata una metodologia numerica che ha permesso di applicare schemi basati su principi di conservazione e set di equazioni differenziali a geometrie reali di componenti elettrici. Il problema risiede nelle caratteristiche fisiche di alcuni strati a contatto con gli isolanti che sono di tipo semiconduttivo e che quindi hanno caratteristiche fisiche profondamente differenti dagli isolanti. Il secondo filone è relativo alla modellazione chimica del processo di invecchiamento che fornisce al suddetto modello i parametri fisici fondamentali. In questo rapporto sono approfonditi gli aspetti di innesco di scarica per emissione Schottky e la modellazione dell’impatto ione superficie che potrebbe contribuire attivamente alla propagazione di degenerazioni interne come il treeing.

Il terzo filone riguarda lo sviluppo di una versione ottimizzata di un sensore di campo elettrico per la misura delle scariche parziali. È stata prodotta una seconda generazione di sensori con una sensibilità molto più alta che in passato. È stato un prodotto un primo prototipo per misure monodimensionali che è stato utilizzato sia in indagini di laboratorio che in configurazioni maggiormente realistiche.

L’ultimo filone riguarda l’invecchiamento di trasformatori isolati in resina. Un protocollo di invecchiamento rapido è stato messo a punto in modo da correlare lo stato di stress dello strato isolante del trasformatore e alcuni marcatori chimici che vengono emessi in aria dalla matrice polimerica.