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pubblicazioni - Articolo ISI

Modeling Stray Capacitances of High-Voltage Capacitive Dividers for Conventional Measurement Setups

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Modeling Stray Capacitances of High-Voltage Capacitive Dividers for Conventional Measurement Setups

Nell’articolo si presenta un metodo semplificato di valutazione dell’effetto delle capacità parassite in un setup di misura convenzionale descritto dalla norma IEC 61869-11.

Le Capacità Parassite (CP) costituiscono un serio problema nelle applicazioni in Alta Tensione (AT). La loro presenza può alterare la configurazione circuitale o il funzionamento di un dispositivo, con conseguenze errate o addirittura disastrose. A tal fine, in questo lavoro, è descritta la modellazione di CP in divisori capacitivi AT. Tale modellazione non si basa su analisi agli elementi finiti o geometrie complicate; parte invece da un circuito equivalente di un setup di misura convenzionale descritto dalla norma IEC 61869-11. Una volta trovato il modello equivalente comprendente le CP, le espressioni in forma chiusa delle CP sono derivate a partire dalla definizione dell’errore di rapporto. Successivamente, vengono convalidate in un ambiente di simulazione, implementando varie configurazioni circuitali. I risultati dimostrano l’applicabilità e l’efficacia delle espressioni: grazie alla loro semplicità, possono essere implementati da operatori di sistema, ricercatori e produttori evitando l’uso di metodi e tecnologie complicate.

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