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pubblicazioni - Memoria

A new method to analyse the soiling in multi-junction, III-V based CPV modules

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A new method to analyse the soiling in multi-junction, III-V based CPV modules

Nel presente contributo viene presentato un nuovo metodo per analizzare l’accumulo di sporco sulle superfici di moduli fotovoltaici a concentrazione basati su celle a multigiunzione III-V

Il metodo side-by-side (SBS) consente di valutare il degrado delle prestazioni del modulo fotovoltaico a concentrazione (CPV) dovuto allo sporco, monitorando il rapporto di potenza o corrente tra un modulo in prova e un modulo di riferimento che deve essere sempre mantenuto pulito. Per il monitoraggio dell’andamento dello sporcamento nelle centrali CPV, il metodo SBS introduce problemi di costo in quanto deve essere garantita una pulizia continua del modulo di riferimento con mezzi manuali o automatici. Con questo contributo, viene proposto un nuovo metodo di filtraggio dei dati che consente di valutare il degrado delle prestazioni fotovoltaiche dovuto all’accumulo di sporco sui moduli CPV multi-giunzione, senza la necessità di utilizzare un modulo di riferimento. Il nuovo metodo si basa sulla misura dei parametri elettrici del modulo CPV unitamente ai dati di irraggiamento diretto nelle bande spettrali delle sotto-celle superiore e intermedia (per ese: InGaP e InGaAs) e sulla successiva applicazione di un’opportuna procedura di filtraggio. Per una validazione della nuova metodologia è stata effettuata una campagna di test della durata di dieci mesi e i risultati ottenuti con il metodo di filtraggio dei dati sono stati confrontati con quelli ottenuti con il metodo  SBS.

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